Código de teste para aplicativo incorporado

Fundo:

Eu estou desenvolvendo um projeto largish usando Atmel AVR atmega2560. Este projeto contém muitas funções baseadas em hardware (7 dispositivos SPI, 2 portas I2C, 2 portas MODBUS RS485, muita E / S Analógica e Digital). Eu desenvolvi "drivers" para todos esses dispositivos que fornecem o loop de aplicativo principal com uma interface para acessar os dados necessários.

Questão:

O projeto que estou desenvolvendo eventualmente terá que atender aos padrões SIL.

Eu gostaria de poder testar o código e fornecer um bom nível de cobertura de código. No entanto, não consigo encontrar nenhuma informação para me iniciar em como essa estrutura de teste deve ser configurada.

A ideia é que eu possa ter um conjunto de testes automatizados que permitirão que futuras correções de bugs e adições de recursos sejam testadas para ver se eles quebram o código. O problema é que não entendo como o código pode ser testado no chip.

Preciso de hardware para monitorar a E / S no dispositivo e emular dispositivos conectados externamente? Quaisquer ponteiros que possam ser fornecidos seriam muito apreciados.

--Steve

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